UF3000EX

En üst düzeydeki üretim beklentilerine yönelik tam otomatik Wafer Prober makineleri – daha yüksek hız ve daha hassas ölçümler

Son derece yüksek işlem hızı

Yüksek probe gücü

Optik ölçüm sistemi

Noktasal kesinlikte navigasyon
ACCRTECH Europe GmbH - Produkte - Semiconductor - %%title%%
  • Yeni geliştirilen XY Stage tahrik ünitesi ve son derece yüksek verim için yeni hesaplama yöntemi
  • Maksimum Probe gücü için geliştirilmiş Z platformu – büyük yüzey ve High Pin Count Probe kartları üzerine eşit temas için
  • Geniş alanlı iğne temizleme ünitesi ile son derece sağlam Z ekseni
  • Kolay kullanım için 15 inç LCD dokunmatik ekran
  • ProbeCard ve Chuck’ın göreceli konumlarının yüksek hassasiyette ölçülmesi için Optical Target Scope (OTS)
  • Renkli kayıt ve 3 büyütme seviyesi için Tri-Color 3-Level Magnifying
  • Navigations Display işlevi – Wafermap üzerine dokunmanız yeter, bu sayede istediğiniz wafer noktasına ulaşabilirsiniz
Print Friendly, PDF & Email

Hizmetinizdeyiz

+49 (0)89 546788-0

İletişim formunun