UF3000EX-e

Tam otomatik Wafer Prober Makineleri – çok çeşitli özel uygulamalar için de uygun

İşleme hızı bakımından rakipsiz

Üst düzey kullanım esnekliği

Navigasyonda noktasal isabet

Temassız ölçüm

200 ila 300 mm çaplı waferler için – aynı zamanda özel wafer modelleri için
Yeni geliştirilen XY Stage tahrik ünitesi ve son derece yüksek verim için yeni algoritma
Maksimum Probe gücü için geliştirilmiş Z platformu – büyük yüzey ve High Pin Count Probe kartları üzerine eşit temas için
Kolay bir kullanım için 15 inç LCD dokunmatik ekran
ProbeCard ve Chuck’ın göreceli konumlarının yüksek hassasiyette ölçülmesi için Optical Target Scope (OTS)
Renkli kayıtlar ve 3 büyütme seviyesi için Tri-Color 3-Level Magnifying
Navigations Display işlevi – Wafermap üzerine dokunmanız yeter, bu sayede istediğiniz wafer noktasına ulaşabilirsiniz