UF3000EX

En üst düzeydeki üretim beklentilerine yönelik tam otomatik Wafer Prober makineleri – daha yüksek hız ve daha hassas ölçümler

Son derece yüksek işlem hızı

Yüksek probe gücü

Optik ölçüm sistemi

Noktasal kesinlikte navigasyon

Yeni geliştirilen XY Stage tahrik ünitesi ve son derece yüksek verim için yeni hesaplama yöntemi
Maksimum Probe gücü için geliştirilmiş Z platformu – büyük yüzey ve High Pin Count Probe kartları üzerine eşit temas için
Geniş alanlı iğne temizleme ünitesi ile son derece sağlam Z ekseni
Kolay kullanım için 15 inç LCD dokunmatik ekran
ProbeCard ve Chuck’ın göreceli konumlarının yüksek hassasiyette ölçülmesi için Optical Target Scope (OTS)
Renkli kayıt ve 3 büyütme seviyesi için Tri-Color 3-Level Magnifying
Navigations Display işlevi – Wafermap üzerine dokunmanız yeter, bu sayede istediğiniz wafer noktasına ulaşabilirsiniz