UF3000EX
Wafer prober automatico per le più severe esigenze di produzione – ancora più veloce e più preciso
Rendimento estremamente elevato
Massima forza di prova
Sistema di misura ottico
Navigazione di alta precisione
Massima forza di prova
Sistema di misura ottico
Navigazione di alta precisione
- Unità di azionamento XY Stage di nuovo sviluppo e nuovo procedimento di calcolo per un rendimento estremamente elevato
- Piattaforma Z migliorata per la massima forza di prova, per un contatto uniforme sulle probe card High Pin Count di grande superficie
- Asse Z estremamente stabile con unità di pulizia ad aghi di grande superficie
- Schermo tattile LCD da 15 pollici per agevolare il comando
- Optical Target Scope (OTS) per misurare con grande precisione le posizioni di probe card e chuck
- Tri-Color 3-Level Magnifying per il rilevamento a colori e 3 piani di ingrandimento
- Funzione display di navigazione: basta toccare la mappa dei wafer per giungere al qualsiasi punto del wafer desiderato
