Opt-Scope
Misurazione rapida e senza contatto in un intervallo di nanometri della struttura superficiale 3D di componenti lavorati e profili di contorni con interferometro a luce bianca.
Area di scansione verticale 20 mm
Risoluzione 0,01 nm
Precisione ±(0,1+|H/1000|) μm
Risoluzione 0,01 nm
Precisione ±(0,1+|H/1000|) μm
- Strumento per la misurazione delle ruvidità superficiali ottiche / tridimensionali (ISO25178-2)
- Grande risparmio di tempo, fino a 100 volte più veloce rispetto alla misurazione tattile con stilo
- L’analisi DEAP brevettata comprende un algoritmo appositamente sviluppato per migliorare la struttura dei dati
- Il sistema di sostituzione a torretta consente di scegliere la lente adatta ad ogni compito di misurazione
- Per ampliare l’area di misurazione è disponibile una tavola X-Y comandata tramite CNC (stitching – sovrapposizione dei dati)
- Il sistema è integrato in un dispositivo di ammortizzazione attivo che garantisce la massima precisione
Campo di applicazione
L’Opt-Scope consente di misurare in pochi secondi la topografia della superficie. È perfetto per le superfici sensibili che potrebbero subire danni con la misurazione tattile, nonché per le posizioni di misurazione molto piccole e di difficile accesso. È possibile misurare con ottimi risultati anche superfici di massima precisione e lucidatura come specchi, nonché superfici estremamente ruvide quali mole.
