UF3000EX

Wafer prober automatico per le più severe esigenze di produzione – ancora più veloce e più preciso

Rendimento estremamente elevato

Massima forza di prova

Sistema di misura ottico

Navigazione di alta precisione
ACCRTECH Europe GmbH - Produkte - Semiconductor - %%title%%
  • Unità di azionamento XY Stage di nuovo sviluppo e nuovo procedimento di calcolo per un rendimento estremamente elevato
  • Piattaforma Z migliorata per la massima forza di prova, per un contatto uniforme sulle probe card High Pin Count di grande superficie
  • Asse Z estremamente stabile con unità di pulizia ad aghi di grande superficie
  • Schermo tattile LCD da 15 pollici per agevolare il comando
  • Optical Target Scope (OTS) per misurare con grande precisione le posizioni di probe card e chuck
  • Tri-Color 3-Level Magnifying per il rilevamento a colori e 3 piani di ingrandimento
  • Funzione display di navigazione: basta toccare la mappa dei wafer per giungere al qualsiasi punto del wafer desiderato
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