Wafer Prober

I Wafer Prober sono macchine necessarie per i test elettrici dei singoli chip del wafer. Il Prober si occupa di caricare e movimentare automaticamente i wafer rispettando la massima precisione di collocazione. Una cella di test completa è costituita da un wafer prober, un’unità di test e una scheda di verifica (probe card). Grazie alle loro nuove tecnologie, i nostri eccellenti wafer prober per wafer fino a 200 mm o 300 mm di diametro, oltre a lavorare con la massima precisione, assicurano con il loro rendimento superiore alla media la massima capacità e produttività.

≤ 200 mm Wafer Prober

La soluzione giusta per ogni esigenza: dal collaudato modello base automatico al modello high end ultraveloce con la massima precisione in un vasto intervallo di temperature.

UF190R
 UF200R
 UF2000

≤ 300 mm Wafer Prober

Rendimento elevato e precisione di +-1,5 µm per wafer fino a 300 mm di diametro. Sono adatti a qualsiasi ambiente di prova e consentono una grande facilità di movimentazione e spostamento.

UF3000EX
 UF3000EX-e

Wafer prober e frame prober

Flessibilità ad alto livello. I frame handling prober possono essere utilizzati sia per il test di wafer ultrasottili interi che per i wafer situati su dicing frame.

 FP2000
 FP3000

Key Features

High Voltage

High Current

Vaccum-less handling (MEMS)

Light-free 

Group Index

Bump Probing

Color Camera

Super-high Magnification camera

Mini environment (ISO xx)

OHT

Thin Wafer

Ultra Thin Wafer

Top-side handling