UF3000EX

A legszigorúbb gyártási követelményeknek megfelelő, teljesen automata Wafer Prober – még gyorsabb és pontosabb

Rendkívül nagy áteresztési képesség

Legnagyobb tesztelési teljesítmény

Optikai mérőrendszer

Pontos navigálás
ACCRTECH Europe GmbH - Produkte - Semiconductor - %%title%%
  • Új fejlesztésű XY Stage hajtóegység és új számítási eljárás a különösen nagy áteresztőképesség érdekében
  • Maximális tesztelési teljesítményt nyújtó, továbbfejlesztett Z platform – egyenletes érintkezést biztosít nagy felületű és High Pin Count Probe Cardokon
  • Rendkívül stabil Z tengely nagy felületű tű tisztítóegységgel
  • A 15 hüvelykes LCD érintőképernyőnek köszönhetően egyszerűen kezelhető
  • Optical Target Scope (OTS) a Probe Card és a Chuck relatív helyzetének nagy pontosságú méréséhez
  • Tri-Color 3-Level Magnifying színes felvételekhez, valamint 3 nagyítási fokozat
  • Navigációs kijelzőfunkció – a felhasználó a lapkatérkép megérintésével egyszerűen eljuthat a lapka kívánt pontjához
Print Friendly, PDF & Email

Állunk rendelkezésére

+36 23 232 224

Kapcsolatfelvételi űrlap

Melyik kapcsolatfelvételi módot részesíti előnyben?