UF3000EX-e

Teljesen automata Wafer Prober – számos különleges alkalmazáshoz rendelkezésre áll

Nem ismer kompromisszumokat az áteresztést illetően

Rendkívül rugalmasan alkalmazható

Pontos navigáció

Érintésmentes mérés
ACCRTECH Europe GmbH - Produkte - Semiconductor - %%title%%
  • 200-től legfeljebb 300 mm átmérőjű lapkákhoz – különleges lapkatípusokhoz is
  • Új fejlesztésű XY Stage hajtóegység és új algoritmus a különösen nagy áteresztőképesség érdekében
  • Maximális tesztelési teljesítményt nyújtó, továbbfejlesztett Z platform – egyenletes érintkezést biztosít nagy felületű és High Pin Count Probe Cardokon
  • A 15 hüvelykes LCD érintőképernyőnek köszönhetően egyszerűen kezelhető
  • Optical Target Scope (OTS) a Probe Card és a Chuck relatív helyzetének nagy pontosságú méréséhez
  • Tri-Color 3-Level Magnifying színes felvételekhez 3 nagyítási fokozatban
  • Navigációs kijelzőfunkció – a felhasználó a lapkatérkép megérintésével egyszerűen eljuthat a lapka kívánt pontjához
Print Friendly, PDF & Email

Állunk rendelkezésére

+36 23 232 224

Kapcsolatfelvételi űrlap

Melyik kapcsolatfelvételi módot részesíti előnyben?