UF3000EX

A legszigorúbb gyártási követelményeknek megfelelő, teljesen automata Wafer Prober – még gyorsabb és pontosabb

Rendkívül nagy áteresztési képesség

Legnagyobb tesztelési teljesítmény

Optikai mérőrendszer

Pontos navigálás

Új fejlesztésű XY Stage hajtóegység és új számítási eljárás a különösen nagy áteresztőképesség érdekében
Maximális tesztelési teljesítményt nyújtó, továbbfejlesztett Z platform – egyenletes érintkezést biztosít nagy felületű és High Pin Count Probe Cardokon
Rendkívül stabil Z tengely nagy felületű tű tisztítóegységgel
A 15 hüvelykes LCD érintőképernyőnek köszönhetően egyszerűen kezelhető
Optical Target Scope (OTS) a Probe Card és a Chuck relatív helyzetének nagy pontosságú méréséhez
Tri-Color 3-Level Magnifying színes felvételekhez, valamint 3 nagyítási fokozat
Navigációs kijelzőfunkció – a felhasználó a lapkatérkép megérintésével egyszerűen eljuthat a lapka kívánt pontjához