UF2000

Nagy áteresztőképességet biztosító, teljesen automata Wafer Prober – 120-tól legfeljebb 200 mm-es lapkákhoz

Mikrométer pontosságú helyzetellenőrzés

Pontos hőmérséklet-meghatározás

Rendkívül hatékony Multi-Pin Probing
ACCRTECH Europe GmbH - Produkte - Semiconductor - %%title%%
  • +-1,5 µm-es pontosság a legújabb optikával a helyzetpontosság meghatározásához
  • Ultrastabil Z/θ platform Multi-Pin Probing érintkezéshez
  • A környezeti hőmérséklet pontos ellenőrzése – opcionálisan felszerelhető a következőkkel: Low Temperature Chuck vagy Hot Chuck
  • Rendkívül rugalmas– sokféle opcióval, pl. kétszeres adagolással
  • Egyszerűen kezelhető – multifunkciós kijelzővel és érintőképernyős kezelőfelülettel
  • Az összes hajtótengely külön vezérelhető – minden egyes alkatrész optimálisan ellenőrizhető
Print Friendly, PDF & Email

Állunk rendelkezésére

+36 23 232 224

Kapcsolatfelvételi űrlap

Melyik kapcsolatfelvételi módot részesíti előnyben?