Opt-Scope
A feldolgozni kívánt részegységek és kontúrprofilok 3D felületi szerkezetének fehérfény-interferométerrel történő érintésmentes és gyors méréséhez a nano mérési tartományban.
Függőleges scannelési tartomány: 20 mm
Felbontás: 0,01 nm
Pontosság: ±(0,1+|H/1000|) µm
Felbontás: 0,01 nm
Pontosság: ±(0,1+|H/1000|) µm
- Optikai/háromdimenziós felületi egyenetlenségek mérésére szolgáló felületmérő eszköz (ISO25178-2)
- Időtakarékos, akár 100-szor gyorsabb a stylus-szal történő taktilis mérésnél
- A szabadalmaztatott DEAP-analízis speciális fejlesztésű algoritmussal gondoskodik az adatok előnyösebb rendszerezéséről.
- A revolverváltó rendszerrel kiválasztható az adott mérési feladathoz megfelelő lencse
- A mérési tartomány bővítéséhez CNC vezérlésű X-Y asztal vásárolható (Stitching – adatfűzés)
- A rendszerhez aktív csillapítás is tartozik a legnagyobb pontosság biztosítása érdekében
Alkalmazási terület
Az Opt-Scope használatával néhány másodperc alatt elvégezhetők a felületi topográfiai mérések. Tökéletes az olyan érzékeny felületekhez, amelyek megsérülnének a taktilis mérés közben, valamint a nagyon kicsi és nehezen hozzáférhető helyek méréséhez. A legpontosabb és legfényesebb felületektől, pl. a tükröktől kezdve egészen a legdurvább felületekig, pl. csiszolókövekig bármi kiválóan mérhető vele.
