UF3000EX-e

Teljesen automata Wafer Prober – számos különleges alkalmazáshoz rendelkezésre áll

Nem ismer kompromisszumokat az áteresztést illetően

Rendkívül rugalmasan alkalmazható

Pontos navigáció

Érintésmentes mérés

200-től legfeljebb 300 mm átmérőjű lapkákhoz – különleges lapkatípusokhoz is
Új fejlesztésű XY Stage hajtóegység és új algoritmus a különösen nagy áteresztőképesség érdekében
Maximális tesztelési teljesítményt nyújtó, továbbfejlesztett Z platform – egyenletes érintkezést biztosít nagy felületű és High Pin Count Probe Cardokon
A 15 hüvelykes LCD érintőképernyőnek köszönhetően egyszerűen kezelhető
Optical Target Scope (OTS) a Probe Card és a Chuck relatív helyzetének nagy pontosságú méréséhez
Tri-Color 3-Level Magnifying színes felvételekhez 3 nagyítási fokozatban
Navigációs kijelzőfunkció – a felhasználó a lapkatérkép megérintésével egyszerűen eljuthat a lapka kívánt pontjához