UF3000EX-e
Testeur sous pointes entièrement automatisé – disponible pour une multitude d’applications spéciales
Pas de compromis en matière de débit
Grande flexibilité d’application
Navigation avec la précision du point
Mesure sans contact
Grande flexibilité d’application
Navigation avec la précision du point
Mesure sans contact
- Pour wafers de 200 à 300 mm de diamètre – également types de wafers spéciaux
- Nouvelle unité d’entraînement XY et nouvel algorithme assurant un débit extrêmement élevé
- Plateforme Z améliorée permettant une force de test maximale – pour un contact uniforme sur des cartes de test de grande surface et à nombre élevé de broches
- Utilisation facile grâce à un écran LCD tactile de 15 pouces
- Optical Target Scope (OTS) permettant la mesure de grande précision des positions relatives de la carte de test et du mandrin
- Tri-Color 3-Level Magnifying pour images en couleur et 3 niveaux de grossissement
- Fonction de navigation sur écran – en touchant l’image du wafer, l’utilisateur peut atteindre un point quelconque du wafer
