UF3000EX

Testeur sous pointes entièrement automatisé pour exigences maximales – encore plus rapide et précis

Débit extrêmement élevé

Force de test maximale

Système de mesure optique

Navigation avec la précision du point
ACCRTECH Europe GmbH - Produkte - Semiconductor - %%title%%
  • Nouvelle unité d’entraînement XY et nouvelle méthode de calcul assurant un débit extrêmement élevé
  • Plateforme Z améliorée permettant une force de test maximale – pour un contact uniforme sur des cartes de test de grande surface et à nombre élevé de broches
  • Axe Z très stable avec unité de nettoyage d’aiguilles de grande surface
  • Utilisation facile grâce à un écran LCD tactile de 15 pouces
  • Optical Target Scope (OTS) permettant la mesure de grande précision des positions relatives de la carte de test et du mandrin
  • Tri-Color 3-Level Magnifying pour images en couleur et 3 niveaux de grossissement
  • Fonction de navigation sur écran – en touchant l’image du wafer, l’utilisateur peut atteindre un point quelconque du wafer
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