UF3000EX-e

Testeur sous pointes entièrement automatisé – disponible pour une multitude d’applications spéciales

Pas de compromis en matière de débit

Grande flexibilité d’application

Navigation avec la précision du point

Mesure sans contact
ACCRTECH Europe GmbH - Produkte - Semiconductor - %%title%%
  • Pour wafers de 200 à 300 mm de diamètre – également types de wafers spéciaux
  • Nouvelle unité d’entraînement XY et nouvel algorithme assurant un débit extrêmement élevé
  • Plateforme Z améliorée permettant une force de test maximale – pour un contact uniforme sur des cartes de test de grande surface et à nombre élevé de broches
  • Utilisation facile grâce à un écran LCD tactile de 15 pouces
  • Optical Target Scope (OTS) permettant la mesure de grande précision des positions relatives de la carte de test et du mandrin
  • Tri-Color 3-Level Magnifying pour images en couleur et 3 niveaux de grossissement
  • Fonction de navigation sur écran – en touchant l’image du wafer, l’utilisateur peut atteindre un point quelconque du wafer
Print Friendly, PDF & Email

Nous vous renseignerons volontiers

+33 (476) 04-4080

Formulaire de contact

Le moyen par lequel nous pouvons au mieux vous contacter?