UF3000EX
Testeur sous pointes entièrement automatisé pour exigences maximales – encore plus rapide et précis
Débit extrêmement élevé
Force de test maximale
Système de mesure optique
Navigation avec la précision du point
Force de test maximale
Système de mesure optique
Navigation avec la précision du point
- Nouvelle unité d’entraînement XY et nouvelle méthode de calcul assurant un débit extrêmement élevé
- Plateforme Z améliorée permettant une force de test maximale – pour un contact uniforme sur des cartes de test de grande surface et à nombre élevé de broches
- Axe Z très stable avec unité de nettoyage d’aiguilles de grande surface
- Utilisation facile grâce à un écran LCD tactile de 15 pouces
- Optical Target Scope (OTS) permettant la mesure de grande précision des positions relatives de la carte de test et du mandrin
- Tri-Color 3-Level Magnifying pour images en couleur et 3 niveaux de grossissement
- Fonction de navigation sur écran – en touchant l’image du wafer, l’utilisateur peut atteindre un point quelconque du wafer
