UF2000

Testeur sous pointes entièrement automatisé à grand débit – pour wafers de 120 à 200 mm

Contrôle de placement avec une précision micrométrique

Détermination exacte de la température

Multi-Pin Probing très efficace
ACCRTECH Europe GmbH - Produkte - Semiconductor - %%title%%
  • Précision +-1,5 µm, avec optique ultramoderne pour la détermination de la précision de placement
  • Plateforme Z/θ extrêmement stable pour contact Multi-Pin Probing
  • Contrôle précis de la température ambiante – en option, avec Low Temperature Chuck ou Hot Chuck
  • Grande flexibilité – nombreuses options telles que chargeur double
  • Utilisation simple – écran tactile multifonction
  • Chaque axe d’entraînement peut être contrôlé séparément – pour un contrôle optimal de chaque composant
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