UF3000EX-e

Plně automatický krokový tester (Wafer Prober) – k dispozici také pro řadu speciálních aplikací

Nekompromisní produktivita

Velmi flexibilní použití

Vysoce precizní v navigaci

Bezdotykové měření

Pro substrátové disky (wafery) o průměru 200 až 300 mm – také pro speciální typy waferů
Nově vyvinutý pohon v osách XY a nový algoritmus pro extrémně vysoký výkon
Vylepšená platforma osy Z pro nejvyšší možnou testovací sílu – pro rovnoměrný kontakt s velkoplošnými testovacími kartami s velkým počtem pinů
15palcový LCD dotykový displej pro snadnou obsluhu
Optical Target Scope (OTS) pro vysoce přesné nastavení vzájemné pozice testovací karty a stolku s waferem
Tri-Color 3-Level Magnifying s barevnými obrazem ve 3 úrovních zvětšení
Funkce navigace displejem – dotykem na mapě může uživatel přejít na jakékoliv požadované místo